Kính hiển vi điện tử quét phát xạ Zeiss Field Sản phẩm Sigma Series - Huapu Universal

Phát hiện linh hoạt, quy trình làm việc 4 bước, hiệu suất phân tích nâng cao

Kết hợp hiệu suất phân tích tiên tiến với công nghệ quét phát xạ trường để tận dụng quang học điện tử Gemini trưởng thành. Nhiều máy dò có thể lựa chọn: cho các hạt, bề mặt hoặc hình ảnh cấu trúc nano. Quy trình làm việc 4 bước bán tự động của Sigma tiết kiệm rất nhiều thời gian: thiết lập các bước hình ảnh và phân tích để tăng hiệu quả.

Phát hiện linh hoạt cho hình ảnh rõ ràng

• Sử dụng phát hiện tiên tiến để tùy chỉnh Sigma cho nhu cầu của bạn để mô tả tất cả các mẫu.
  

• Sử dụng máy dò kép in-lens để thu thập thông tin về hình dạng và thành phần.
  

• Nhận tới 50% hình ảnh tín hiệu với một thế hệ mới của máy dò thứ cấp. Sử dụng máy dò áp suất C2D và biến đổi tiên tiến của Sigma ở chế độ áp suất biến để có được hình ảnh sắc nét với độ tương phản lên đến 85% trong môi trường chân không thấp.
  

Tự động tăng tốc quy trình làm việc

• Quy trình làm việc 4 bước cho phép bạn kiểm soát tất cả các chức năng của Sigma. Trong môi trường đa người dùng, đào tạo từ hình ảnh nhanh và tiết kiệm bắt đầu bằng cách điều hướng mẫu trước và sau đó thiết lập các điều kiện hình ảnh.

• Đầu tiên, điều hướng mẫu trước, sau đó thiết lập các điều kiện hình ảnh.
  

• Tiếp theo, các khu vực quan tâm đến mẫu được tối ưu hóa và hình ảnh được thu thập tự động. Cuối cùng, sử dụng bước cuối cùng của quy trình làm việc để hình dung kết quả.
  

Kính hiển vi phân tích tiên tiến

• Kết hợp kính hiển vi điện tử quét với phân tích cơ bản: Máy dò hình học tán xạ lưng hàng đầu của Sigma cải thiện đáng kể hiệu suất phân tích, đặc biệt là đối với các mẫu nhạy cảm với chùm electron.

• Dữ liệu phân tích được thu thập ở một nửa luồng phát hiện và tốc độ gấp đôi.

• Hưởng lợi từ khoảng cách làm việc phân tích ngắn 8,5 mm và góc kẹp 35 ° để có được kết quả phân tích đầy đủ và không có bóng.
  

Dựa trên công nghệ Gemini

• Ống kính Gemini được thiết kế kết hợp để xem xét tác động của điện trường và từ trường đối với hiệu suất quang học và giảm thiểu tác động của trường đối với mẫu. Điều này cho phép kết quả tuyệt vời ngay cả khi chụp ảnh mẫu từ tính.
  

• Việc phát hiện Gemini-in-lens đảm bảo hiệu quả phát hiện tín hiệu, đồng thời giảm thời gian hình ảnh thông qua các yếu tố phát hiện thứ cấp (SE) và tán xạ ngược (BSE).
  

• Công nghệ máy gia tốc chùm tia điện tử Gemini đảm bảo kích thước đầu dò nhỏ và tỷ lệ tín hiệu tiếng ồn cao.

Phát hiện linh hoạt cho hình ảnh rõ ràng

• Sử dụng các kỹ thuật phát hiện mới để mô tả tất cả các mẫu.
  

• Sử dụng máy dò ETSE và in-lens sáng tạo ở chế độ chân không cao để thu thập thông tin về hình dạng và độ phân giải cao.
  

• Sử dụng điện tử thứ cấp áp suất thay đổi và máy dò C2D để có được hình ảnh sắc nét ở chế độ áp suất thay đổi.
  

• Sử dụng máy dò aSTEM để tạo ra hình ảnh truyền tải tỷ lệ cao.
  

• Sử dụng máy dò BSD hoặc YAG để phân tích thành phần.

Phụ kiện

SmartEDX

Mang đến cho bạn giải pháp phân tích phổ năng lượng tích hợp

Nếu không có sự hiểu biết đầy đủ về các thành phần hoặc mẫu chỉ với công nghệ hình ảnh SEM, các nhà nghiên cứu cần sử dụng máy quang phổ năng lượng (EDS) trong SEM để phân tích vi mô. Với các giải pháp phổ năng lượng được tối ưu hóa cho các ứng dụng điện áp thấp, bạn có thể nhận được thông tin về sự phân bố không gian của các thành phần hóa học của các nguyên tố. Lợi ích từ:

• Các ứng dụng phân tích vi mô thông thường được tối ưu hóa và nhờ tốc độ truyền tuyệt vời của cửa sổ silicon nitride, tia X năng lượng thấp của các nguyên tố nhẹ có thể được phát hiện.

• Giao diện người dùng đồ họa được hướng dẫn bởi quy trình làm việc cải thiện đáng kể tính dễ sử dụng, cũng như tính lặp lại trong môi trường đa người dùng.

• Dịch vụ hoàn chỉnh và hỗ trợ hệ thống với các kỹ sư Zeiss cung cấp dịch vụ một cửa cho việc cài đặt, bảo trì phòng ngừa và bảo hành của bạn.

Hệ thống kết nối Raman Imaging&Scan Mirror

Hình ảnh Raman tích hợp đầy đủ

Thêm phổ Raman và kết quả hình ảnh vào dữ liệu của bạn để có được thông tin đặc tính phong phú hơn về vật liệu. Bằng cách mở rộng Zeiss Sigma 300 với khả năng chụp ảnh Raman đồng tập trung, bạn có thể nhận được thông tin dấu vân tay hóa học độc đáo trong mẫu để xác định thành phần của nó.

• Xác định thông tin cấu trúc phân tử và tinh thể

• Phân tích 3D có thể được thực hiện và hình ảnh SEM, hình ảnh quét bề mặt Raman và dữ liệu EDS có thể được liên kết khi cần thiết.

• RISE tích hợp đầy đủ cho phép bạn trải nghiệm những lợi thế được cung cấp bởi các hệ thống SEM và Raman tiên tiến.