Máy phân tích vật liệu hạt bề mặt dụng cụ

FastmicroMáy phân tích vật liệu hạt bề mặt dụng cụ(SAS)

FastmicroMáy phân tích vật liệu hạt bề mặt dụng cụ, là một công cụ phát hiện ô nhiễm bề mặt dựa trên công nghệ lấy mẫu "băng dính", có thể xác định các chất ô nhiễm hạt nhỏ như 0,5um bằng cách đo gián tiếp. Thẻ lấy mẫu PMC chuyên dụng được trang bị cho phép lấy mẫu linh hoạt trên tất cả các loại bề mặt, bao gồm các khu vực khó tiếp cận và bề mặt có độ nhám cao, mà không để lại dấu vết có thể phát hiện được. Thiết bị có thể phân tích vùng lấy mẫu 225 mm 2 chỉ trong vài giây, đảm bảo kết quả nhanh chóng và chính xác. Với giá đỡ wafer 2 inch, nó cũng có thể phát hiện các hạt bụi phóng xạ để đáp ứng nhu cầu phát hiện của các kịch bản phức tạp trong các ngành công nghiệp khác nhau.

Đo độ sạch bề mặt trong vài giây

Nhanh chóng:Hình ảnh chỉ mất vài giây

Định lượng:Kết quả định lượng nguồn

Hoạt động dễ dàng:Kết quả hoạt động không bị ảnh hưởng bởi người vận hành

• Quyết định ngay lập tức để kiểm soát chất lượng dây chuyền sản xuất

• Phân tích dữ liệu thêm cho nhân viên R&D

• Để giám sát, xác minh nhanh và kiểm soát quy trình thống kê

Chính xác:Đo độ phân giải cao (số lượng, vị trí, kích thước)

Ổn định:Kết quả đo nhiều lần Độ lặp lại cao

Thông lượng cao:Cung cấp kết quả đạt tiêu chuẩn/không đạt tiêu chuẩn ngay lập tức

Máy phân tích vật liệu hạt bề mặt dụng cụ(SAS)

SởDụng cụ này gián tiếp đo mức độ ô nhiễm hạt bề mặt bằng bộ lấy mẫu. Dễ dàng sử dụng SamplerNgười dùng thu thập các mẫu ô nhiễm hạt trên các sản phẩm và thành phần khác nhau bất cứ lúc nào.

Đo gián tiếp với sampler

Sử dụng bộ lấy mẫu có thể được sử dụng ngay cả ở những nơi khó tiếp cận và các bề mặt tương đối thô.Dựa vào đo lường. Các mẫu (từ các nhà cung cấp được chứng nhận) không gây ô nhiễm chéo.

Máy phân tích có thể hoàn thành việc phát hiện mẫu trong vài giây, cho phép kiểm soát quy trình làm việc trong vòng một phút. Bộ lấy mẫu có thể được đặt trong khung lấy mẫu để vận chuyển, đo lại và phân tích thêm.

Có nhiều lựa chọn lấy mẫu, bao gồm bộ lấy mẫu dính (bao gồm cả giá đỡ) để phát hiện gián tiếp và bộ wafer 2 inch để phát hiện bụi.

Khả năng thích ứng này làm cho nó phù hợp với các kịch bản thử nghiệm khác nhau trên nhiều ngành công nghiệp, cung cấp dữ liệu đo lường đáng tin cậy và cái nhìn sâu sắc về mức độ ô nhiễm.