Máy đo nhiễu xạ tia X để bàn

Máy đo nhiễu xạ tia X để bàn

Được thiết kế cho sản xuất công nghiệp, kiểm soát chất lượng, tập trung công nghệ tiên tiến trong sản xuất máy nhiễu xạ tia X, chức năng hóa và thu nhỏ máy nhiễu xạ tia X để bàn. Có thể phân tích định tính, định lượng và phân tích cấu trúc tinh thể của các mẫu kim loại và phi kim loại một cách chính xác. Đặc biệt thích hợp cho chất xúc tác, titan trắng, xi măng, dược phẩm và các ngành công nghiệp sản xuất sản phẩm khác.

Các chỉ số kỹ thuật chính:

● Công suất hoạt động (điện áp ống, dòng điện ống): 600W (40kV, 15mA) hoặc 1200W (40kV, 30mA), ổn định: 0,005%

● Ống X-ray: ống X-ray gốm kim loại, mục tiêu Cu, công suất 2.4kW, kích thước tiêu điểm: 1x10 mm

Làm mát bằng không khí hoặc làm mát bằng nước (lưu lượng nước lớn hơn 2,5L/phút)

● Máy đo góc: mẫu ngang θ s-θ d cấu trúc, vòng tròn nhiễu xạ bán kính 150mm

● Chế độ đo mẫu: liên tục, bước, Omg

● Phạm vi đo góc: Khi θ s/θ d được liên kết -3 ° -150 °

● Chiều rộng bước tối thiểu: 0,0001 °

● Tái tạo góc: 0,0005 °

● Tốc độ định vị góc: 1500 °/phút

● Bộ đếm: Bộ đếm bán dẫn tỷ lệ thuận hoặc tốc độ cao một chiều

● Độ phân giải phổ năng lượng: dưới 25%

● Tốc độ đếm tuyến tính tối đa: ≥5 × 105CPS (tỷ lệ thuận), ≥9 × 107CPS (chất bán dẫn một chiều)

● Máy tính: Dell Business Notebook

● Phần mềm điều khiển thiết bị: Hệ điều hành Windows 7, tự động điều khiển điện áp ống, dòng điện ống, cổng quang và đào tạo lão hóa ống tia của máy phát tia X; Kiểm soát quét liên tục hoặc bước của máy đo góc, đồng thời thực hiện thu thập dữ liệu nhiễu xạ; Xử lý thường xuyên dữ liệu nhiễu xạ: tìm đỉnh tự động, tìm đỉnh bằng tay, cường độ tích hợp, chiều cao đỉnh, trọng tâm, khấu trừ nền, làm mịn, khuếch đại đỉnh, tương phản quang phổ, v.v.

● Phần mềm xử lý dữ liệu: định tính pha, phân tích định lượng, tước Kα1, α2, phù hợp với biểu đồ toàn phổ, phù hợp với đỉnh, tính toán chiều rộng nửa chiều cao và kích thước hạt, xác định tế bào, tính toán ứng suất loại II, chỉ số đường nhiễu xạ, nhiều bản vẽ, vẽ 3D, hiệu chuẩn dữ liệu nhiễu xạ, khấu trừ nền, phân tích định lượng mẫu không có tiêu chuẩn, phù hợp với biểu đồ toàn phổ (WPF), mô phỏng phổ nhiễu xạ XRD.

● Bảo vệ tia tán xạ: bảo vệ bằng kính chì+chì, chuỗi cửa sổ khóa và bảo vệ, đo tia tán xạ không quá 1μSv/h

● Độ ổn định toàn diện của thiết bị: ≤1‰

● Dữ liệu tải mẫu một lần: Bộ chuyển đổi cấu hình, tải tối đa 6 mẫu mỗi lần

● Kích thước tổng thể của dụng cụ: 600 × 410 × 670 (w × d × h) mm