Máy nhiễu xạ tia X AL-Y3500A

Máy nhiễu xạ tia X AL-Y3500A

Thiết bị nhiễu xạ AL-Y3500A được thiết kế cho nghiên cứu vật liệu và phân tích sản phẩm công nghiệp, là sản phẩm hoàn hảo để kết hợp phân tích thông thường với đo lường mục đích đặc biệt.

Sự kết hợp hoàn hảo giữa hệ thống phần cứng và hệ thống phần mềm đáp ứng nhu cầu của các học giả, nhà nghiên cứu trong các lĩnh vực ứng dụng khác nhau.

• Hệ thống đo góc nhiễu xạ có độ chính xác cao để có được kết quả đo chính xác hơn

• Hệ thống điều khiển máy phát tia X ổn định cao để có độ chính xác đo lặp lại ổn định hơn

• Các phụ kiện chức năng khác nhau đáp ứng nhu cầu kiểm tra khác nhau

• Hoạt động được lập trình, thiết kế cấu trúc tích hợp, hoạt động dễ dàng, ngoại hình dụng cụ đẹp hơn

  Máy nhiễu xạ tia X là một công cụ kiểm tra tính phổ quát tiết lộ thông tin về cấu trúc tinh thể và hóa học của vật liệu:

• Xác định một và nhiều chất trong mẫu chưa biết

• Phân tích định lượng pha đã biết trong mẫu hỗn hợp

• Phân tích cấu trúc tinh thể (Rietveld structure analysis)

• Thay đổi cấu trúc tinh thể trong điều kiện không thông thường (trong điều kiện nhiệt độ cao, nhiệt độ thấp)

• Phân tích mẫu phim, bao gồm pha phim, độ dày màng nhiều lớp, độ nhám bề mặt, mật độ phí

• Phân tích mẫu microzone

• Vật liệu kim loại dệt, phân tích ứng suất